nCS1 微流控纳米粒度仪
nCS1微流控纳米粒度仪工作原理： 微流控纳米粒度仪采用微流控+电阻脉冲传感技术（microfluidic resistive pulse sensing (MRPS)），直接测定通过微流控芯片的单颗粒样品粒径与浓度，通过微流控芯片孔道区的颗粒会产生电压脉冲信号，信号的大小只与颗粒的大小成正比，避免
Insitec干法在线粒度仪
可在苛刻工业环境中使用的Insitec干式颗粒粒度分析仪，采用激光衍射技术测量0.1 m至2500 m的颗粒粒度。 Insitec干式分析仪通过选件进行配置，适合各种实际的干式颗粒工艺，提供24小时实时监测与控制，可用于：粉尘区域危险环境。气体或粉尘区域危险环境。
激光粒度仪Mastersizer 2000E
Mastersizer 2000E 是在获奖产品 Mastersizer 2000 的基础上开发出来的，是一种经济实用的解决方案，为目前无需完整 Mastersizer 2000 规格，但希望在需要时能够升级的用户而提供。
LAP-DW2000全自动干湿一体激光粒度测定仪
LAP-DW2000激光粒度仪是易仕特新的激光粒度仪之一，自上市以来赢得了广大客户的一致好评。LAP-DW2000采用国际先进的Mie氏散射原理和汇聚光傅立叶变换光路。高密度探头及全量程无缝衔接测试方法，保证了测试结果的准确性和重复性。
电子半导体图像法污染物分析系统
电子半导体图像法清洁度分析系统是普勒新世纪实验按照普洛帝分析仪器事业部的规划，于2001年推向市场的成熟系统仪器；观察颗粒形貌，还可以得到粒度分布、数量、大小、平均长径比以及长径比分布等，为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段；电子半导体图像法清洁
ISO 3310国际标准筛
国际标准筛系列（BS.410：2000 / ISO 3310：2000）有100、200、300及450毫米四种 可供应的孔隙大小范围大125毫米，小20微米，分为全高及半高两种 筛框材质可选择铜、不锈钢，大直径的筛也可供应电镀钢材料
